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Metrología con tecnología de 5 ejes aplicada piezas de Fabricación Aditiva

6 de Noviembre

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Basada en la avanzada tecnología de cabezales, sensores y control, la medición de 5 ejes de Renishaw consigue unas velocidades de exploración y una flexibilidad de medición sin precedentes, al tiempo que supera las limitaciones del compromiso entre velocidad y precisión habituales en las técnicas convencionales. Aumenta la productividad de la medición, minimiza los tiempos de preparación y proporciona una visión más amplia de la calidad de los productos.

Al contrario que los sistemas de cabezales orientables o sondas fijas, la verificación de 5 ejes permite que el palpador siga una trayectoria continua sobre componentes complejos, sin tener que dejar la superficie para cambiar de herramienta o la orientación del cabezal. Los algoritmos del control que sincronizan la CMM y el movimiento del cabezal generan una trayectoria óptima de la punta y minimizan los errores dinámicos de la CMM.

La tecnología de medición de 5 ejes ha sobrepasado los límites de las tecnologías convencionales mediante un cabezal con dos ejes rotativos que se desplazan durante las mediciones. Esto permite que la CMM haga solo aquello para lo que mejor ha sido diseñada: desplazarse a velocidad constante en un único vector mientras mide. Puesto que el cabezal es mucho más ligero que la máquina, se pueden controlar los cambios de la geometría de la pieza sin introducir los perjudiciales errores dinámicos, obteniendo velocidades en superficie mucho más rápidas y, por tanto, unos ciclos de medición más cortos.

Conocer de la forma más rápida y precisa posible las desviaciones de nuestra producción respecto a los nominales, independientemente de cuál sea el proceso productivo, nos va a permitir ser más ágiles y efectivos en la optimización de dicho proceso.

Si además, nuestro proceso productivo tienen unos costes elevados en materia prima y hora/máquina, para un bajo número de unidades a producir, minimizar el número de iteraciones y el tiempo entre ellas hasta validarlo puede determinar, en buena medida, la rentabilidad de proceso.

Iñaki de Paz

Renishaw

Biografía

Ingeniero Técnico Industrial (Esp. Electrónica) por la UPV (2000)
Proyecto realizado en Fachhochschule Stralsund (Alemania)
Executive MBA por ESIC (2019)

Nacido en Bilbao en 1974, en abril del año 2000 inicio mi actividad en el sector de la Metrología Industrial y tras 6 años como técnico y responsable de departamento de Electrónica en fabricante nacional (para mercado internacional) y otros 6 años como responsable de departamento de electrónica en otra multinacional, me integro en 2012 en el equipo de Renishaw, proveedor de referencia en el sector, como responsable de la división de CMM para España y Portugal, dando servicio y soporte a los laboratorios de metrología de nuestros clientes, muchos de ellos líderes en sus ámbitos industriales (principalmente de automoción y aeronáutica).

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