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Metrología con tecnología de 5 ejes aplicada piezas de Fabricación Aditiva

6 de Noviembre 12:00-13:00

Basada en la avanzada tecnología de cabezales, sensores y control, la medición de 5 ejes de Renishaw consigue unas velocidades de exploración y una flexibilidad de medición sin precedentes, al tiempo que evita los inconvenientes entre velocidad y rendimiento habituales en las técnicas convencionales. Aumenta la productividad de la medición, minimiza los tiempos de preparación y proporciona una visión más amplia de la calidad de los productos.

Al contrario que los sistemas de cabezales orientables o sondas fijas, la verificacion de 5 ejes permite que el palpador siga una trayectoria continua sobre componentes complejos, sin tener que dejar la superficie para cambiar el grupo de palpadores o para orientar el cabezal. Los algoritmos del control que sincronizan la MMC y el movimiento del cabezal generan una trayectoria óptima de la punta y minimizan los errores dinámicos de la MMC.

En los métodos de medición convencionales, la CMM realiza todos los movimientos necesarios para adquirir los datos de la superficie. La aceleración genera fuerzas de inercia en la estructura de la máquina, que pueden producir errores de medición.

Los fabricantes de sistemas de metrología llevan años dedicados a desarrollar técnicas que reduzcan estos errores dinámicos, pero existe un límite de velocidad impuesto por la rigidez de la máquina y el servocontrol que, de sobrepasarse, no permitiría realizar mediciones con fiabilidad.

La tecnología de medición de 5 ejes ha sobrepasado la barrera de este límite mediante un cabezal articulado que se desplaza sobre dos ejes durante las mediciones. Esto permite que la CMM haga solo aquello para lo que mejor ha sido diseñada: desplazarse a velocidad constante en un único vector mientras mide. Puesto que el cabezal es mucho más ligero y dinámico que la CMM, con una respuesta de frecuencia considerablemente mejor, puede controlar los cambios de la geometría de la pieza sin introducir los perjudiciales errores dinámicos, obteniendo velocidades en superficie mucho más rápidas y, por tanto, unos ciclos de medición más cortos.

Iñaki Beitia

Renishaw

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